Determination of Interface Structure and Bonding by Z-Contrast STEM
نویسندگان
چکیده
منابع مشابه
Structure Determination Through Z-Contrast Microscopy
The technique of Z-contrast scanning transmission electron microscopy (STEM) provides an incoherent image of crystals at atomic resolution. There are no phases in an incoherent image, therefore, no phase problem for structure determination. Location of atom column positions in an image is greatly simplified. In addition, the resolution is a factor of two higher than in a coherent image, the inf...
متن کاملساختار کلاسهایی از حلقه های z- موضعی و c- موضعی the structure of some classes of z-local and c-local rings
فرض کنیمr یک حلقه تعویض پذیر ویکدار موضعی باشدو(j(r رایکال جیکوبسن r و(z(r مجموعه مقسوم علیه های صفر حلقه r باشد.گوییم r یک حلقه z- موضعی است هرگاه j(r)^2=. .همچنین برای یک حلقه تعویض پذیر r فرض کنیم c یک عنصر ناصفر از (z( r باشد با این خاصیت که cz( r)=0 گوییم حلقه موضعی r یک حلقه c - موضعی است هرگاه و{0 و z(r)^2={cو z(r)^3=0, نیز xz( r)=0 نتیجه دهد که x عضو {c,0 } است. در این پایان نامه ساخ...
Z-contrast Stem for Materials Science
The use of a high-angle annular detector on a scanning transmission electron microscope (STEM) for imaging crystalline materials with strong chemical sensitivity is described. The image can be used to form an elemental map with high efficiency which can be quantified directly in terms of atomic concentrations. Examples of ion-implanted silicon recrystallized by solidor liquid-phase epitaxial gr...
متن کاملPolar Oxide Interface Characterization by Differential Phase Contrast STEM
Understanding the atomic-scale structure of surfaces and interfaces is essential to control the functional properties of many materials and devices. Recent advances in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy (STEM) have made possible the direct characterization of localized atomic structure in ceramic materials, especially grain boundaries and heterointerfaces. In STEM, a...
متن کاملذخیره در منابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ژورنال
عنوان ژورنال: Solid State Phenomena
سال: 1995
ISSN: 1662-9779
DOI: 10.4028/www.scientific.net/ssp.47-48.561